時(shí)間:2014-08-07 13:13:44
應(yīng)用于有形狀要求的零件和輪廓的測(cè)量:掃描方式測(cè)量的主要優(yōu)點(diǎn)在于能高速的采集數(shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)不僅可以用來確定零件的尺寸及位置,更重要的是能用眾多的點(diǎn)來精確的描述形狀、輪廓,這特別適用于對(duì)形狀、輪廓有嚴(yán)格要求的零件,該零件形狀直接影響零件的性能(如葉片、橢圓活塞等);也適用于你不能確信你所用的加工設(shè)備能加工出形狀足夠好的零件,而形狀誤差成為主要問題時(shí)的情況。高精度測(cè)量:由于掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)測(cè)量是勻速或恒測(cè)力采點(diǎn),其測(cè)點(diǎn)精度可以更高。同時(shí),掃描測(cè)頭可以直接判斷接觸點(diǎn)的法矢,對(duì)于要求嚴(yán)格定位、定向測(cè)量的場(chǎng)合,掃描測(cè)頭對(duì)離散點(diǎn)的測(cè)量也具有優(yōu)勢(shì)。對(duì)于未知曲面的掃描,亦即稱為數(shù)字化的場(chǎng)合下,掃描測(cè)頭顯示出了它的獨(dú)特優(yōu)勢(shì):因?yàn)閿?shù)字化工作方式時(shí),需要大量的點(diǎn),觸發(fā)式測(cè)頭的采點(diǎn)方式顯得太慢;由于是未知曲面,測(cè)量機(jī)運(yùn)動(dòng)的控制方式亦不一樣,即在“探索方式”下工作;測(cè)量機(jī)根據(jù)已運(yùn)動(dòng)的軌跡來計(jì)算下一步運(yùn)動(dòng)的軌跡、計(jì)算采點(diǎn)密度等。
在可以應(yīng)用接觸式測(cè)頭的情況下,慎選非接觸式測(cè)頭;
在只測(cè)尺寸、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭;
考慮成本又能滿足要求的情況下,盡量選接觸式觸發(fā)測(cè)頭;
對(duì)形狀及輪廓精度要求較高的情況下選用掃描測(cè)頭;
掃描測(cè)頭應(yīng)當(dāng)可以對(duì)離散點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量;考慮掃描測(cè)頭與觸發(fā)測(cè)頭的互換性(一般用通用測(cè)座來達(dá)到);
易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測(cè)量,可考慮采用非接觸式測(cè)頭;
要考慮軟件、附加硬件(如測(cè)頭控制器、電纜)的配套。