三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)光學(xué)測(cè)頭的分類
時(shí)間:2014-01-24 14:34:13
近年來光學(xué)測(cè)頭發(fā)展非常迅速,是探測(cè)技術(shù)的一個(gè)重要發(fā)展方向??梢詫⒛壳霸?/span>三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上應(yīng)用的光學(xué)測(cè)頭分為如下五類:
1)一維測(cè)頭,如三角法測(cè)頭、激光聚焦測(cè)頭、光纖測(cè)頭等;
2)二維測(cè)頭,主要是各種視像測(cè)頭,如利用CCD攝像機(jī)測(cè)量平面輪廓的測(cè)頭;
3)二維加一維測(cè)頭,是在二維測(cè)頭基礎(chǔ)上,再增加對(duì)焦功能,使它能實(shí)現(xiàn)三維測(cè)量;
4)三維測(cè)頭,如用莫爾條紋技術(shù)形成等高線進(jìn)行條紋計(jì)數(shù)的測(cè)頭、體視式測(cè)頭;
5)接觸式測(cè)頭,是首先利用測(cè)端拾取工件表面位置信息,然后用光學(xué)原理進(jìn)行轉(zhuǎn)換。